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范宏春：半導體測試風雨30年，從被「卡脖子」到中國國產設備崛起

Posted By Naipnews.members On 2019 年 6 月 19 日 @ 上午 9:24 In 光電 / 半導體,專家觀點,產業,產業觀點 | No Comments

范宏春，上海交通大學微電子所研究生畢業。曾任惠普（後來改名Agilent，安捷倫）業務經理，主管IC測試機的銷售；2002年底，加入一家新創IC設計公司任運營和市場副總；2006年至今，任台灣電子測試設備廠商致茂電子(Chroma)半導體測試事業部中國區總經理。